SFT9100M型 X射线荧光镀层厚度测量仪(SFT9100M Fluorescent X-ray Thickness Gauge)
产品介绍:
利用荧光X射线的镀膜厚度测量仪。可以测定构造部分等有凹凸的样品和打印基板等大面积的样品。配合采用激光射线的Z轴方向的焦点,发挥测定值的再现性。而且实现了价格低。
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